Röntgenfluoreszenzspektrometer FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB
zur Analysezur beruflichen Nutzungzur Dickemessung

Röntgenfluoreszenzspektrometer
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Eigenschaften

Typ
Röntgenfluoreszenz
Bereich
zur Analyse, zur beruflichen Nutzung, zur Dickemessung
Weitere Eigenschaften
automatisiert, digital

Beschreibung

Die Profi-Serie für Leiterplatten. Zuverlässig und vollautomatisch! Die XDV®-µ PCB-Geräte sind die spezialisierte Lösung für die Messung von kleinsten Strukturen sowie sehr dünnen Beschichtungen auf Leiterplatten. Automatisierte XRF-Qualitätskontrolle von Leiterplatten. Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB ist ein echter Spezialist für die zuverlässige Qualitätskontrolle von Leiterplatten mit Röntgenfluoreszenz. Dank leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor, Mikrofokus-Röhre Ultra und Polykapillaroptik misst das XRF-Gerät mit extrem kleinem Messfleck bei sehr hoher Intensität. Dadurch können Sie auch dünnste Schichten zuverlässig bestimmen. Die Geräte erfüllen zudem die IPC-Anforderungen 4552 und 4556 für ENIG und ENEPIG sowie 4553A (Silver) und 4554 (Tin). Allen Herausforderungen gewachsen. Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben Vollständig automatisierbar. Lassen Sie Ihr Gerät für sich arbeiten PCB-Profis. Spezialisierte Messlösungen für Leiterplatten, erfüllen IPC-Normen Fortschrittlichste Polykapillaroptik auf dem Markt. Unsere inhouse gefertigten Polykapillaroptiken liefern herausragende Messergebnisse bei kurzen Messzeiten Genau und exakt. Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen dank automatischer Bilderkennung Inbetriebnahme. Extrem schnell und einfach Digitaler Pulsprozessor DPP+. Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*

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XRF-Geräte

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.