Kleinster Messfleck, größter Messabstand.
Mit Polykapillaren anspruchsvolle Messaufgaben meistern: High-End-XRF-Messgerät mit Polykapillar-Röntgenoptik für Schichtdickenmessung und Materialanalyse an winzigen Strukturen mit kleinstem Messfleck und größtem Messabstand.
Leistung in Hochform.
Das Highlight für komplex geformte kleine Prüfteile. Der unvergleichliche Messabstand kombiniert mit kleinstem Messfleck und Mikrofokus-Röhre Ultra für eine noch höhere Leistung bei kleinsten Spots machen das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD zum branchenführenden XRF-Instrument.
Allen Herausforderungen gewachsen.
Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben
Fortschrittlichste Polykapillaroptik auf dem Markt.
Unsere inhouse gefertigten Polykapillaroptiken liefern herausragende Messergebnisse bei kurzen Messzeiten
Vollständig automatisierbar.
Lassen Sie Ihr Gerät mit nur einem Klick für sich arbeiten
Genau und exakt.
Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen dank automatischer Bilderkennung
Digitaler Pulsprozessor DPP+.
Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*