Röntgenfluoreszenzspektrometer FISCHERSCOPE® XDAL® 600

für ElektronikMess

Bestimmung von dünnen Schichten, Spurenelementen und Legierungen. Universelles Gerät zur Messung auf kleinsten Strukturen, sehr dünnen Mehrfachschichten, funktionalen Schichten und sehr dünnen Beschichtungen ≤ 0,1 µm. Universelle Röntgenfluoreszenzanalyse für sehr dünne Schichten. Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 ist das universelle RFA-Analysegerät von Fischer zur Bestimmung dünner Schichten, Spurenelementen und Legierungen. Bei der Messung von oben nach unten wird die Probe einfach auf den manuell betriebenen Scherentisch gelegt. Ein Laserpointer dient als Positionierungshilfe. So sind auch Proben mit komplexer Geometrie präzise und einfach zu analysieren. Vielfältig einsetzbar. Ideal für Elektronik- und Halbleiterindustrie RoHS-Analyse. Zuverlässige Bestimmung von Schadstoffen Quick-Measure-Design. Mit wenigen Handgriffen ist das Muster platziert und bereit für die Messung Ausgewogen. Optimales Kosten-Nutzen-Verhältnis Digitaler Pulsprozessor DPP+. Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*