Röntgenfluoreszenzspektrometer FISCHERSCOPE®XULM®

XRFMessfür Beschichtung

Das System für ein breites Einsatzspektrum. Universelles Gerät zur Metall- und Edelmetallanalyse sowie Schichtdickenmessung an einfach geformten Proben und RoHS-Screening. Verschiedene Messtischoptionen: Fest oder manuell RoHS-Analyse: Zuverlässige Bestimmung von Schadstoffen Videomikroskop zur bequemen Bestimmung der optimalen Messstelle Das passende XRF-Gerät für jede Anwendung. Ob PIN-Detektor, Silizium-Drift-Detektor, feste Probenauflage oder manuell bedienbarer XY-Tisch: Das FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® bietet vielseitige Einsatzmöglichkeiten und ist auf Ihre Bedürfnisnisse angepasst. So gelingt die präzise Materialanalyse von Edelmetall- und Goldlegierungen, Schichtdickenmessung oder Spurenanalyse. Die Geräteversion mit dem 50 mm² Silizium-Drift-Detektor eignet sich darüber hinaus für RoHS-Messungen. Vielfältig einsetzbar. Für Handel, Industrie und Laboranwendungen Quick-Measure-Design. Mit wenigen Handgriffen ist das Muster platziert und bereit für die Messung Inbetriebnahme. Extrem schnell und einfach RoHS-Analyse. Zuverlässige Bestimmung von Schadstoffen Digitaler Pulsprozessor DPP+*. Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung** *Nicht bei FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 **Im Vergleich zum DPP