Röntgenfluoreszenzspektrometer FISCHERSCOPE® XDAL®

für die ElektronikMesskompakt

Die besten Detektoren für dünne Schichten. Universelles Gerät für automatisierte Messungen von dünnen und sehr dünnen Schichten < 0,05 μm und für Materialanalyse im ppm-Bereich. Röntgenfluoreszenzanalyse für höhere Ansprüche. Dünn, dünner, XDAL®: Dank Mikrofokus-Röhre und verschiedenen Halbleiterdetektoren eignet sich die FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® Serie ideal für Anwendungen im Bereich dünner und sehr dünner Beschichtungen < 0,05 μm sowie für die Materialanalyse im ppm-Bereich. Die Geräteversion mit dem 50 mm² Silizium-Drift-Detektor eignet sich darüber hinaus für RoHS-Messungen. Das flexible und durch verschiedene Konfigurationsmöglichkeiten (Tisch, Blende, Filter und Detektoren) universelle XDAL® misst zuverlässig, präzise und steht für 100 %ige Sicherheit. Inbetriebnahme. Extrem schnell und einfach Ein Gerät viele Möglichkeiten. Schichtdickenmessung, Materialanalyse und Spurenanalyse Prüfung mehrerer Messpunkte. Selbst bei großflächigen Mustern sind Messpunkte auf der ganzen Musterfläche möglich Auch für große Proben. Haube mit C-Schlitz Vollständig automatisierbar. Lassen Sie Ihr Gerät mit nur einem Klick für sich arbeiten Kompakte Bauweise. Sehr guter Kompromiss aus Leistungsfähigkeit und Platzbedarf