Fluoreszenzspektrometer X-RAY XDV-SDD

RöntgenfluoreszenzProzessfür Beschichtung

Das FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV®-SDD ist ein universelles energiedispersives Röntgenspektrometer. Es ist besonders für die zerstörungsfreie Analyse sehr dünner Schichten, für kleine Konzentrationswerte in der Spurenanalyse und für automatisierte Messungen geeignet. Typische Einsatzgebiete sind die: • Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen, z.B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 0,1 µm • Spurenanalyse auf Leiterplatten nach RoHS und WEEE Anforderungen • Gold- und Edelmetallanalyse • Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie • Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme • Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle Um für jede Messung ideale Anregungsbedingungen zu schaffen, verfügt das XDV-SDD über elektrisch wechselbare Blenden und Primärfilter. Mit dem modernen Silizium Drift Detektor (SDD) wird eine hohe Genauigkeit der Analyse sowie eine gute Nachweisempfindlichkeit erreicht. Dank großer Blenden (Kollimatoren) und dem sehr schnellen Pulsprozessor ist es ideal für die Erfassung hoher Zählraten. Das XDV-SDD hat eine hervorragende Langzeitstabilität, was sich unter anderem in einem deutlich reduziert Kalibrieraufwand widerspiegelt. Mit der Fundamental Parameter Methode können Schichtsysteme sowie feste und flüssige Proben auch standardfrei analysiert werden. Bis zu 24 Elemente im Bereich von Natrium (11) bis Uran (92) können simultan detektiert werden. Mit dem schnellen, programmierbaren X/Y-Tischen ist es das richtige Messinstrument für die automatisierte Probenmessung.