Fluoreszenzspektrometer XDAL® series

EDRFAProzess

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL Serie Die XDAL Spektrometer mit Silizium-PIN-Detektor liefern zuverlässig Analyseergebnisse und Schichtdickenwerte, auch bei kleinen Konzentrationen und sehr dünnen Schichten. Mit ihrem schnellen und hochpräzisen XY(Z)-Messtisch sind sie bestens geeignet für die automatische Probenmessung. Alle XDAL Röntgenspektrometer zeichnen sich durch eine hervorragende Langzeitstabilität aus, was sich unter anderem in einem deutlich reduzierten Kalibrieraufwand widerspiegelt. Mit der Fundamentalparameter-Methode können Schichtsysteme sowie feste und flüssige Proben auch standardfrei analysiert werden.