Optisches Messsystem C10178-03E

DickenUniversalfür Folien

Das optische NanoGauge Dickenmesssystem C10178 ist ein berührungsloses Schichtdickenmesssystem, das spektrale Interferometrie nutzt. Die Schichtdicke wird durch die spektrale Interferometrie schnell mit hoher Empfindlichkeit und hoher Genauigkeit gemessen. Unsere Produkte verwenden ein Mehrkanalspektrometer PMA als Detektoren, was die Messung von Quantenausbeute, Reflexion, Transmission/Absorption und verschiedenen anderen Punkten ermöglicht, während gleichzeitig die Dicke verschiedener optischer Filter und Beschichtungsschichten und mehr gemessen wird. Merkmale - Hohe Geschwindigkeit und hohe Genauigkeit (Messschichtdickenbereich (Glas):150 nm～50 μm) - Messung in Echtzeit - Präzise Messung von schwankenden Schichten - Analyse der optischen Konstanten (n, k) - Externe Steuerung möglich - Quantenausbeute, Reflexionsgrad, Transmissionsgrad und Absorption können mit spezifischem Zubehör gemessen werden Spezifikationen Typennummer : C10178-03E Messmodelle (Eigenschaften) : unterstützt NIR Messbarer Schichtdickenbereich (Glas) : 150 nm bis 50 μm*1 Reproduzierbarkeit der Messung (Glas) : 0,05 nm*2 *3 Messgenauigkeit (Glas) : ±0,4 %*3 *4 Lichtquelle : Halogenlichtquelle Mess-Wellenlänge : 900 nm bis 1650 nm Spotgröße : Ca. φ1 mm*3 Arbeitsabstand : 10 mm*3 Anzahl der messbaren Schichten : Max. 10 Schichten Analyse : FFT-Analyse, Fitting-Analyse, Analyse der optischen Konstante Messzeit : 19 ms/Punkt*5 Faseranschlussform : φ12 Hülsenform Externe Steuerfunktion : RS-232C, PIPE, Ethernet Spannungsversorgung : AC200 V bis AC240 V , 50 Hz/60 Hz Leistungsaufnahme : Ca. 230 VA