Branchenführende Leistung für On-Wafer-Messungen von Millimeter- und Submillimeter-Wellenlängen-Bauteilen. Die T-Wave Probes setzen den Industriestandard für die Charakterisierung von mmWave-Bauteilen. Diese Sonde bietet eine niedrige Einfügedämpfung und einen geringen Kontaktwiderstand bei der Messung von Goldpads. Ausgezeichnete Sichtbarkeit der Spitze. Fähigkeit zur Charakterisierung von 1,1-THz-Bauteilen. Typische Einfügedämpfung < 1,5 dB zwischen 140 GHz und 220 GHz. Integrierte DC-Bias-T mit Low-Profile-GPPO-Anschluss.
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