Messsystem für Wafer CM300xi-ULN

300-mm-Tastkopfstation für Messungen des Flickerrauschens (1/f), des zufälligen Telegraphensignalrauschens (RTN oder RTS) und des Phasenrauschens bei hochempfindlichen Geräten FormFactor hat seine branchenführende CM300xi Probe Station mit revolutionären Technologien erweitert, um neue Testmöglichkeiten bei den 5, 3 und 2 nm Technologieknoten zu erfüllen, die für 5G und darüber hinausgehende Anwendungen vorgesehen sind. Die neue CM300xi-ULN ermöglicht jetzt eine noch nie dagewesene Messleistung und erreicht vier bedeutende Branchenneuheiten im Bereich der On-Wafer-, Niederfrequenz-Flicker-, RTN- und Phasenrauschprüfung: PureLine 3-Technologie Erste automatisierte Prüfstation, die ein spektrales Rauschen von -190 dB erreicht* Anschließen und loslegen Das integrierte TestCell Power Management bietet eine vollständig verwaltete und gefilterte Wechselstromversorgung für das gesamte System, den Prüfkopf und die Instrumente Autonomer 24/7-Betrieb Bis zu 4x schnellere thermische Flickerrauschprüfung auf 30 μm Pads Geringere Einrichtungszeit und Kosten Exklusive rauscharme Standortuntersuchung und Systemprüfungsdienste