Messsystem für Wafer PM8Mikroskop
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Eigenschaften
- Gemessenes Produkt
- für Wafer
- Weitere Eigenschaften
- Mikroskop
Beschreibung
Das PM8 wurde entwickelt, um eine hochstabile, ergonomische und flexible Probeplattform für präzise analytische Probeanwendungen bis zu 200 mm zu bieten, wie z. B. Bauteil- und Wafercharakterisierung, Fehleranalyse (FA), RF/mmW- und Sub-THz-Probing, Opto-Engineering und MEMS.
Sondenplatte
- Kompatibel mit Sondenkartenadaptern
- Probe Cards und Positionierer können gleichzeitig verwendet werden
- Großer Platz für die Aufnahme mehrerer Positionierer auf jeder Seite
- mm-Wave-Platen für 110 GHz Load Pull und andere RF-Rauschanwendungen
- Gekühlte Aufspannplatte für Chucks bis zu 300 °C
Bewegung der Aufspannplatte
- 45 mm Verfahrbereich für maximale Flexibilität
- Die Systemhöhe kann leicht von Wafer- zu Leiterplattenanwendungen angepasst werden
- Motorisierte Bewegungsoption für schnellen Betrieb
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Kataloge
PM8
1 Seiten
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.