Temperaturmesssystem IMS-K-Power

für Waferfür Halbleiterrobust

Umfassendes, schlüsselfertiges integriertes Messsystem (IMS) mit Keysight PDA für On-Wafer-F&E-Messungen zur Charakterisierung von Leistungshalbleiterbauteilen Die Anwendungsexperten von FormFactor und dem Partner Keysight helfen Ihnen bei der Konfiguration einer robusten Komplettlösung, einschließlich: - FormFactor-Sondensystem: TESLA300, TESLA200, T200, EPS150TESLA (andere verfügbar) - Optionen für manuelle, halbautomatische und vollautomatische Sondenstationen - FormFactor-Analysesonden: Hochspannungssonden, Hochstromsonden, Hochleistungssonden - T.I.P.S. "LuPo" Hochspannungs-/Hochleistungssondenkarte (optional) - Vollständige Übertemperaturmessungen und Automatisierung von -60°C bis +300°C - Keysight Power Device Analyzer (PDA): B1505A (andere verfügbar) - Keysight Automatisierungs- und Modellierungssoftware: EasyEXPERT group+ - Zur Vervollständigung des Systems: Kabel, Adapter, Befestigungsmaterial, etc. Das produktivste und genaueste System zur Charakterisierung von Leistungshalbleitern der Branche Beim Testen von Si- und fortschrittlichen GaN/SiC-Bauelementen auf dem Wafer statt in der Verpackung sehen sich F&E-Ingenieure und Prüfpersonal mit einigen großen Herausforderungen konfrontiert, um hochgenaue Daten zu erfassen. Dazu gehören die Notwendigkeit, die Sonde und das System bei hohen Spannungen gegen Einbrüche zu schützen, niederohmige Sonden- und Waferkontakte für hohe Ströme und eine spezielle Handhabung für dünne Wafer.