Temperaturmesssystem Summit

für Waferzur KalibrierungHochpräzision

Hochpräzises Sondensystem, das unbeaufsichtigte Prüfungen bei verschiedenen Temperaturen ermöglicht. In einer EMI-abgeschirmten, lichtdichten und feuchtigkeitsfreien Testumgebung wird eine hervorragende Messleistung für eine Vielzahl von Anwendungen in einem Temperaturbereich von -60°C bis 300°C erzielt. Die manuellen und halbautomatischen Sondensysteme der Summit™-Serie mit PureLine™- und AttoGuard®-Technologie ermöglichen Ihnen den Zugriff auf das gesamte Spektrum Ihrer Prüfgeräte für 200 mm- und 150 mm-Wafer. Was auch immer Ihre Anwendung ist: RF/Mikrowelle, Bauteilcharakterisierung, Zuverlässigkeit auf Waferebene, E-Test, Modellierung oder Ertragssteigerung - die Plattformen der Summit-Serie sind branchenweit führend bei On-Wafer-Messungen. Die Sondenstationen der Summit-Serie sind einfach zu konfigurieren, wobei Sie die Messleistung, den manuellen oder halbautomatischen Betrieb, die Chuck-Größe, den thermischen Bereich und die Mikroskopoptionen wählen können. Alle Plattformen sind mit Temperaturen von -60°C bis 300°C kompatibel, so dass ein Upgrade für Ihre zukünftigen Anforderungen möglich ist. Die leistungsstarke Velox™-Software zur Steuerung der Sondenstation bietet eine einfache Navigation auf dem Bildschirm, Wafer-Mapping, Automatisierung und nahtlose Integration mit Analysegeräten und Messsoftware. Sie ermöglicht den einfachen Betrieb von motorisierten Positionierern und thermischen Systemen. Bei einer Vielzahl von Anwendungen erzielt die Summit-Probe-Station mit der Velox-Software eine hohe Testeffizienz