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Stationäres Dickenmessgerät 3 nm - 100 µm | F30 series
mit spektraler ReflexionsanalyseBenchtop

Stationäres Dickenmessgerät - 3 nm - 100 µm | F30 series - Filmetrics Inc. - mit spektraler Reflexionsanalyse / Benchtop
Stationäres Dickenmessgerät - 3 nm - 100 µm | F30 series - Filmetrics Inc. - mit spektraler Reflexionsanalyse / Benchtop
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Eigenschaften

Typ
stationär
Technologie
mit spektraler Reflexionsanalyse
Weitere Eigenschaften
Benchtop

Beschreibung

Messen Sie Abscheideraten, Schichtdicken, optische Konstanten (n und k) und die Uniformität von Halbleitern und dielektrischen Schichten in Echtzeit mit dem F30 System. Beispielschichten MBE und MOCVD: Glatte und lichtdurchlässige, oder geringfügig asorbierende Filme können vermessen werden. Das schließt nahezu sämtliche Halbleiter, von AIGaN bis GaInAsP, ein.
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.
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