Probecard LiProbe®
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Beschreibung
Lamellenbeams bieten verschiedene Vorteile hinsichtlich HF- und Kraftbedarf. Die kurze Sondenlänge sowie die flexible Lamellenanzahl machen sie zur perfekten Lösung für anspruchsvolle Anwendungen.
Min. Pitch des Prüflings - 60 µm
Max. Kontaktfläche - 105 mm x 105 mm
Temperatur - -55°C...+180°C
Stromtragfähigkeit bei Raumtemperatur - 1300 mA
Kontaktkraft bei empfohlener Zustellung - 1,4 cN - 3,8 cN
Bandbreite analog bei -1dB-Grenze - 100 GHz
Kontaktierungsmaterialien -
Kontaktierungsmaterial 1 - Gold
Kontaktierungsmaterial 2 - Palladium
Kontaktierungsmaterial 3 - Vielfältig
Kontaktierungsmaterial 4 - Lötkugel
Kontaktierungsmaterial 5 - Aluminium
Kontaktierungsmaterial 6 - Kupfer
Kataloge
SEMICONDUCTOR TESTING PRODUCTS
8 Seiten
WAFER PROBE CARD SOLUTIONS
8 Seiten
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.