Ultraviolette Pikosekundenlaser werden zum präzisen Halb- oder Vollschneiden von Silizium- und Verbindungshalbleiterwafern verwendet.
- Hohe Qualität
Die Schnittlinienbreite ist schmal (am Beispiel der Ultraviolett-Kollimation, Schnittlinienbreite + HAZ ≤ 20 ± 5 μ m) Kleiner Kanteneinbruch (≤ 10 μ m)
- Hoher Wirkungsgrad
UPH ≥ 10 (UV-Galvanometer: am Beispiel eines 3-Zoll-Doppelmesa-Siliziumdiodenwafers, einschließlich automatischer Ausrichtungszeit)
- Gute Stabilität
Der Laser hat eine hohe Pulsstabilität (≤ 2% RMS) und eine hohe Strahlqualität (M ² ≤1,2)
Beispielanzeige:
Schneiden Front - 3-Zoll-Doppel-Mesa-Dioden-Wafer-Laser Vollschnitt; Korngröße: 300 * 300 μm, Wafer-Dicke 130 μm, Schneidkanal Dicke 30 μm.
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