Flächengewicht-Messsystem CHIPINSPECTOR

Röntgenautomatischfür Platten

Mit dem GreCon CHIPINSPECTOR werden Fremdkörper aussortiert, so dass höchste Plattenqualität und signifikante Einsparungen von Material- und Produktionskosten erzielt werden. Die bislang zur Verfügung stehenden Messsysteme sind nicht in der Lage, ein breites Spektrum an Fremdkörpern zu detektieren Exakte Detektion von Fremdkörpern mit Dual-Energy-Röntgenverfahren Gleichmäßige Materialverteilung durch Vibrationsrinne Ausschleusung von Fremdkörpern über Präzisionsklappen, um Ausschuss von Gutmaterial zu minimieren Vorteile auf einen Blick Steigerung der Qualität Zufriedene Endkunden durch hervorragende Plattenqualität Weniger Reklamationen Bessere Produktqualität durch reinere Oberflächen Reduzierung der Materialkosten Weniger Ausschuss Hoher Materialfluss mit bis zu 55 t/h atro Reduzierung der Produktionskosten Reduzierte Wartungskosten durch Schonung der nachgelagerten Maschinen Erhöhte Lebensdauer von Mahlscheiben Messverfahren Durch das Dual-Energy-Verfahren können 99 % aller Fremdkörper im Rahmen der Materialzuführung detektiert und ausgeschleust werden, bevor sie in die weitere Produktion gelangen. Durch das materialspezifische Absorptionsverhalten verschiedener Stoffe können mit dieser Technik erstmals auch Materialien gleichen Flächengewichts, wie z. B. Holz und Gummi, zuverlässig unterschieden werden. Da das Rohmaterial durchstrahlt wird, können Verunreinigungen des Materialflusses, unabhängig von der Oberflächenbeschaffenheit oder des Feuchtegehaltes des Rohmaterials, identifiziert werden. Die Identifikation der Störstoffe funktioniert auch bei Lagen bis zu 50 mm, ein Fahren in Dünnstlage ist mit dem CHIPINSPECTOR nicht erforderlich.