Der temperaturgesteuerte Laborflasher (TCLF) besteht aus einem A+A+A+ Xenon Single Long Pulse Spire Sonnensimulator und einer temperaturgesteuerten Kammer. Der Spire-Laborflasher bietet eine hervorragende Messgenauigkeit und Präzision für kritische Modulleistungsmessungen.
Das System liefert ein Spektrum der Klasse A+ 300nm-1200nm (SPC >99%) sowie Gleichmäßigkeit und zeitliche Stabilität der Klasse A+ in Kombination mit einer Messwiederholbarkeit von ≤ 0,15%.
Die einzigartige Funktion des Solarsimulators mit einer Einzelpulsdauer von 270 ms unterstützt die Bestimmung der maximalen Modulleistung von hocheffizienten Silizium-, Dünnschicht-, PERC-, HIT- und Multi-Junction-Modulen, die interne Kapazitätseffekte aufweisen.
Die zusätzliche Temperaturkontrollkammer ermöglicht genaue temperaturbezogene Tests. Der Temperaturbereich der Kammer beträgt 10-85°C und die Temperaturgleichmäßigkeit± 1°C.
Die Kammer kann zu bestehenden Spire-Flashern hinzugefügt werden.
Mit der TCLF können FnD- und Zertifizierungslabors folgende Tests durchführen
- Genaue Leistungsbestimmung aller neuen hocheffizienten Module
- Prüfung bifazialer PV-Module
- Genaue Messungen von Temperaturkoeffizienten
- Genaue Bestimmung der Energiebewertung
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