Der X-Scan ME ist eine komplette Produktfamilie von vorgefertigten photonenzählenden Zeilenkameras und kritischem Detektorzubehör, die für raue Industrieumgebungen ausgelegt sind. Die Serie ist eine ideale Lösung für die Sortierung, Einstufung, Qualitätsprüfung, Materialanalyse und Optimierung komplexer Fertigungsprozesse in den Bereichen Recycling, Lebensmittelverarbeitung, Bergbau und anderen Prozessindustrien. Der X-Scan ME eignet sich perfekt für High-Tier-Anwendungen, die eine Materialunterscheidungsfähigkeit erfordern, die über herkömmliche Dual-Energie-Konfigurationen hinausgeht, und bei denen Robustheit, einfache Systemintegration und Wartungsfreundlichkeit für eine höhere Scanleistung und ein besseres Endbenutzererlebnis gefragt sind.
Der X-Scan ME ist mit einer präzisen Sensorspalt- und Ausrichtungskontrolle sowie einer VHF-Konfiguration (sehr hoher Fluss) ausgestattet. Die Serie wird von einzigartigen X-Card ME3 XC-Detektorkarten gespeist, die im Vergleich zur vorherigen Kartengeneration eine verdoppelte Photonenzählfähigkeit aufweisen. Zusätzlich zum Multi-Energie-Modus verfügt der X-Scan ME über einen effektiven Energiebereich von 20 bis 160 keV mit konfigurierbaren Photonenzählmodi, so dass die Vorteile der leistungsstarken Multi-Energie-Technologie für Mehrzweck-Scan-Anforderungen einfach genutzt werden können.
Die Serie ist auf einer leicht skalierbaren und modularen Plattform aufgebaut. Sie zeichnet sich durch ein robustes, IP67-klassifiziertes Gehäuse und zuverlässige mechanische und elektrische Schnittstellen aus. Sie verfügt über einen eingebauten Flüssigkeitskühlkreislauf für ein schadstoffresistentes und zuverlässiges thermisches Detektor-Management. Der X-Scan ME wird mit einer anwendungsangepassten und robusten Steuereinheit, dem X-IM ME3-H, geliefert.
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