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Spektroskopiesystem CIP-FICO-II
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Beschreibung
► Unabhängige fasergekoppelte Tx- und Rx-Köpfe
► Echtzeit-Spektroskopie
► Breitbandige Empfindlichkeit bis zu 4,0 THz
► Transmissions- und Reflexionsmodi
mehrere Objektivoptionen für eine Vielzahl von Abbildungsbedingungen
► Messpunktanzeige durch Laserführung für präzise Ausrichtung
Leistungsmerkmale
► Stand-off Reflexionsmessungen
► Hervorragend geeignet für spektroskopische und bildgebende Anwendungen, einschließlich zerstörungsfreier Prüfung
► Durchdringt viele dielektrische Materialien
► Schichtdicken- und Beschichtungsmessungen
► Optionaler XY-Bildtisch für schnelle und komfortable Bildgebungsmessungen
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