Das CA20 liefert ausgezeichnete 2D- und 3D-Bilder in höchster Auflösung, ermöglicht die schnellste Inspektion von mikrometerkleinen Details - und hilft, die Markteinführungszeit für komplexe 3D-ICs zu verkürzen.
• Entwickelt für die Halbleiterindustrie
• Zerstörungsfreie Technologie für dreidimensionale Einblicke in Lötstellen innerhalb von Minuten
• Wiederholbare Ergebnisse durch zuverlässige und präzise Technologie, die eine stabile Prüfroutine unterstützt
• Effiziente softwaregestützte Prüfung, einschließlich automatischer Voidanalyse mit Void Insights
• Dose Manager für den Schutz strahlungsempfindlicher Komponenten