Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SEM4000X

InspektionLaborfür die Materialanalyse

Das SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM). Es erreicht eine Auflösung von 1.9nm@1.0kV und meistert mühelos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedene Arten von Proben. Es kann mit einem Ultra-Strahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Auflösung bei niedriger Spannung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt die Multi-Detektor-Technologie mit einem In-Column-Elektronendetektor (UD), der in der Lage ist, SE- und BSE-Signale zu detektieren und gleichzeitig hochauflösende Leistung zu liefern. Der in der Kammer montierte Elektronendetektor (LD) enthält einen Kristallszintillator und Photomultiplier-Röhren, die eine höhere Empfindlichkeit und Effizienz bieten, was zu stereoskopischen Bildern mit ausgezeichneter Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und bietet Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatischer Stigmator und automatische Ausrichtung, die eine schnelle Aufnahme von Bildern mit extrem hoher Auflösung ermöglichen.