Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SEM4000X

InspektionLaborfür die Materialanalyse

CIQTEK SEM4000X FESEM-Mikroskop Spezifikationen Elektronenoptik - Auflösung: 0.9 nm@ 30 kV, SE 1.2 nm@15 kV, SE 1.9 nm@1 kV, SE 1.5 nm@1 kV (Ultra-Strahlverzögerung) 1 nm@15 kV (Ultra-Strahlverzögerung) Beschleunigungsspannung: 0,2 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid): 1 ~ 1,000,000 x Elektronenkanone Typ: Schottky Feldemissions-Elektronenkanone Probenkammer: - Kamera: Zwei Kameras (optische Navigation und Kammerüberwachung) Tischbereich: X: 110 mm Y: 110 mm Z: 50 mm T: -10°~ +70° R: 360° SEM-Detektoren und Verlängerungen - Standard: In-Linsen-Elektronendetektor: UD-BSE/UD-SE Everhart-Thornley-Detektor: LD Optional: Rückstreuelektronen-Detektor (BSED) Einziehbarer Rastertransmissionselektronenmikroskopie-Detektor (STEM) Niedervakuum-Detektor (LVD) Energiedispersionsspektrometer (EDS / EDX) Elektronenrückstreuungs-Beugungsmuster (EBSD) Probenwechselschleuse (4 Zoll /8 Zoll) Trackball & Drehknopf-Bedienfeld Ultra Beam Deceleration Mode Technologie Das CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes FE-SEM. Es meistert mühelos die Herausforderungen hochauflösender Bildgebung für verschiedene Arten von Proben. Es kann mit einem Ultra-Strahlverzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern. # Hohe Auflösung # Multidetektor-Technologie # Vereinfachte Ausrichtung # Aufbauend auf einer High-End-Plattform * Ultra Beam Deceleration Mode Technologie # Exzellente Erweiterungsmöglichkeiten