Wolframwendel-Mikroskop SEM 3300

Rasterelektronenfür Analysefür die Materialanalyse

CIQTEK SEM3300 SEM-Mikroskop Spezifikationen *Elektronen-Optik Auflösung: 2,5 nm @ 15 kV, SE 4 nm bei 3 kV, SE 5 nm @ 1 kV, SE Beschleunigungsspannung: 0,1 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x *Probenkammer Kamera: Optische Navigation Kammer-Überwachung Tisch-Typ: 5-Achsen, vakuumkompatibel, motorisiert XY-Bereich: 125 mm Z-Bereich: 50 mm T-Bereich: - 10° ~ 90° R Bereich: 360° *SEM-Detektoren Standard: In-Linse-Elektronendetektor (Inlens) Everhart-Thornley-Detektor (ETD) Optional: Retractable Back-Scattered Electron Detector (BSED) Energiedispersives Spektrometer (EDS / EDX) Rückgestreutes Elektronenbeugungsmuster (EBSD) *Wahlweise Probenwechsel-Schleuse Trackball & Knopf Bedienfeld *Benutzeroberfläche Betriebssystem: Windows Navigation: Optische Navigation, Gestenschnellnavigation, Trackball (optional) Automatische Funktionen: Auto-Helligkeit und -Kontrast, Auto-Fokus, automatischer Stigmator Das CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (SEM) umfasst Technologien wie die "Super-Tunnel"-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren sowie elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolfram-Filament-Mikroskop wird die seit langem bestehende Auflösungsgrenze solcher SEMs übertroffen, wodurch das Wolfram-Filament-SEM in die Lage versetzt wird, Niederspannungs-Analyseaufgaben durchzuführen, die bisher nur mit Feldemissions-SEMs möglich waren. *Durchbrechen der Auflösungsgrenze von Wolfram-Filament-SEMs *In-Linse-Elektronendetektor *Elektromagnetische und elektrostatische Kombi-Objektivlinse *Sicherer in der Anwendung *Ausgezeichnete Erweiterungsfähigkeit