Wolframwendel-Mikroskop SEM 3300

Rasterelektronenfür Analysefür die Materialanalyse

Das SEM3300 ist ein Rasterelektronenmikroskop der neuen Generation mit einer Auflösung von mehr als 2,5 nm bei 20 kV. Die spezielle Elektronenoptik durchbricht die Auflösungsgrenze des Wolframfilaments und erreicht eine Auflösung von 5 nm bei einer niedrigen Spannung von 1 kV. Es hat eine hervorragende Abbildungsqualität, kann hochauflösende Bilder in verschiedenen Sichtfeldbereichen liefern und bietet eine große Tiefenschärfe. Die große Erweiterungsfähigkeit ermöglicht es, die Welt der mikroskopischen Bildgebung zu erkunden. Merkmale 1.Auflösung：2,5 nm @ 20 kV, SE；4 nm @ 3 kV, SE；5 nm @ 1 kV, SE 2.Vergrößerung：1 ~ 300.000 x 3.Beschleunigungsspannung：0,1 kV~ 30 kV 4."SuperTunnel"：Elektronenoptische Technologie 5.Hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung：erreicht durch die Elektronenoptik-Säulenstrahl-Verzögerungstechnologie 6.Elektromagnetische & elektrostatische Kombi-Objektivlinse：Effektive Reduzierung der Linsenaberration, verbesserte Bildauflösung bei niedrigen Spannungen, kompatibel zur Abbildung magnetischer Proben 7.In-column Electron Detection Technology：Verbessert die Effizienz des Elektroneneinfangs, realisiert hohes Signal-Rausch-Verhältnis bei hoher Auflösung 8.Optische Navigation: Schnelles Auffinden der Zielkoordinaten der Probe und der Regions of Interest (ROI) 9.*AutoMap: Vollautomatische Bildaufnahme und -zusammenführung, Abbildung eines großen Sichtfelds