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Rasterelektronenmikroskop SEM5000XLaborfür Qualitätskontrollefür die Materialanalyse
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Eigenschaften
- Typ
- Rasterelektronen
- Anwendungsbereich
- Labor, für Qualitätskontrolle, für die Materialanalyse
- Ergonomie
- Tablet-PC
- Mikroskopkopf
- trinokulares
- Beobachtungstechnik
- Hellfeld, In-Situ
- Konfigurierung
- bodenstehend
- Lichtquelle
- LED-Beleuchtung
- Elektronenquelle
- Schottky-Feldemission, Wolframwendel
- Ionenquelle
- Gallium
- Detektortyp
- Rückstreuelektronen, in-lens SE, EBSD
- Optionen und Zubehör
- computergestützt
- Weitere Eigenschaften
- Digitalkamera, USB, ultrahochauflösend
- Vergrößerung
Min: 1 unit
Max: 2.500.000 unit
- Räumliche Auflösung
Min: 0,6 nm
Max: 1 nm
- Gewicht
400 kg
(881,8 lb)- Länge
90 cm
(35,4 in)- Breite
95 cm
(37,4 in)- Höhe
158 cm
(62,2 in)
Beschreibung
CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV.
Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der „SuperTunnel“-Technologie und des hochauflösenden Objektivlinsendesigns kann SEM5000X weitere Verbesserungen bei der Auflösung der Niederspannungsbildgebung erzielen. Die Probenkammeranschlüsse sind auf 16 erweitert, und die Probenwechsel-Ladeschleuse unterstützt bis zu 8-Zoll-Wafergrößen (maximaler Durchmesser 208 mm), was die Anwendungsmöglichkeiten erheblich erweitert. Abdeckung. Die erweiterten Scanmodi und erweiterten automatisierten Funktionen sorgen für eine stärkere Leistung und ein noch optimierteres Erlebnis.
VIDEO
Kataloge
CIQTEK Electron Microscope Catalog
15 Seiten
CIQTEK Electron Microscope
15 Seiten
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Scanning Electron Microscope
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.