Rasterelektronenmikroskop SEM2100
Laborfür die Materialanalysefür Halbleiter

Rasterelektronenmikroskop
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Eigenschaften

Typ
Rasterelektronen
Anwendungsbereich
Labor, für die Materialanalyse, für Materialien, für Halbleiter, für Batterie
Ergonomie
aufrecht
Objektiv-Art
plan
Beobachtungstechnik
In-Situ
Konfigurierung
bodenstehend
Lichtquelle
koaxialer Beleuchtung
Elektronenquelle
Wolframwendel
Ionenquelle
Gallium
Linsendesign
mit Aberrationskorrektur
Detektortyp
Rückstreuelektronen, in-lens SE, EBSD
Optionen und Zubehör
computergestützt, USB
Weitere Eigenschaften
zur Beobachtung, hochauflösend
Vergrößerung

300.000 unit

Räumliche Auflösung

3,9 nm, 4,5 nm

Beschreibung

Das SEM2100 ist ein benutzerfreundliches und leicht zugängliches Wolfram-Filament-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das auch für Einsteiger geeignet ist. Es zeichnet sich durch einen vereinfachten Bedienprozess aus und hält sich bei der Gestaltung der Benutzeroberfläche an Industriestandards und Benutzergewohnheiten. Trotz seiner minimalistischen Software-Oberfläche bietet es ein umfassendes Spektrum an automatisierten Funktionen, Mess- und Anmerkungswerkzeugen, Funktionen zur Verwaltung der Bildnachbearbeitung, optische Bildnavigation und vieles mehr. Dieses Designkonzept verkörpert perfekt die Idee "Einfachheit geht nicht auf Kosten der Funktionalität".

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.