Rasterelektronenmikroskop SEM2100

Laborfür die Materialanalysefür Halbleiter

CIQTEK SEM2100 SEM-Mikroskop Spezifikationen Elektronen-Optik Auflösung: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm bei 20 kV, BSE Beschleunigungsspannung: 0,5 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Probenkammer Kamera: Optische Navigation Kammer-Überwachung Tisch-Typ: 3-Achsen, XYZ-Achse vakuumtauglich motorisiert XY-Bereich: 125 mm Z-Bereich: 50 mm SEM-Detektoren Standard: Everhart-Thornley-Detektor (ETD) Optional: Zurückziehbarer Rückstreuelektronen-Detektor (BSED) Energiedispersionsspektrometer (EDS / EDX) Rückgestreutes Elektronenbeugungsmuster (EBSD) Wahlweise Probenwechsel-Schleuse Trackball & Knopf Bedienfeld Benutzeroberfläche - Betriebssystem: Windows Navigation: Optische Navigation, Gestenschnellnavigation, Trackball (optional) Automatische Funktionen: Auto-Helligkeit und -Kontrast, Auto-Fokus, automatischer Stigmator Das CIQTEK SEM2100 REM-Mikroskop zeichnet sich durch eine vereinfachte Bedienung aus und entspricht in seiner "Benutzeroberfläche" den Industriestandards und Benutzergewohnheiten. Trotz der minimalistischen Softwareoberfläche bietet es umfassende automatisierte Funktionen, Mess- und Anmerkungswerkzeuge, Funktionen für die Bildnachbearbeitung, optische Bildnavigation und vieles mehr. Das Design des SEM2100 setzt die Idee der "Einfachheit ohne Abstriche bei der Funktionalität" perfekt um. #Intuitives, übersichtliches, einfach zu bedienendes Design #Umfassende Automatisierungsfunktionen #Integrierte Bildnachbearbeitungsfunktionen #Integrierte Bildnachbearbeitungsfunktionen #Standardmäßige optische Bildnavigation #Ausgezeichnete Erweiterungsfähigkeit #Sichere Bedienung