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- CIQTEK Co., Ltd.
Rasterelektronenmikroskop SEM3200Laborfür Qualitätskontrollemedizinisch
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Eigenschaften
- Typ
- Rasterelektronen
- Anwendungsbereich
- Labor, für Qualitätskontrolle, für die Materialanalyse, medizinisch, für Halbleiter, für Materialien
- Ergonomie
- aufrecht
- Objektiv-Art
- plan
- Beobachtungstechnik
- In-Situ
- Konfigurierung
- bodenstehend
- Lichtquelle
- koaxialer Beleuchtung
- Elektronenquelle
- Wolframwendel
- Ionenquelle
- Gallium
- Linsendesign
- mit Aberrationskorrektur
- Detektortyp
- EBSD, mit energiedispersivem Röntgendetektor
- Optionen und Zubehör
- computergestützt, USB
- Weitere Eigenschaften
- automatisch, mit hoher Drehzahl
- Vergrößerung
300.000 unit
- Räumliche Auflösung
3 nm, 4 nm, 7 nm
- Gewicht
480 kg
(1.058,2 lb)- Länge
926 mm
(36,5 in)- Breite
836 mm
(32,9 in)- Höhe
1.700 mm
(66,9 in)
Beschreibung
CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Umgebung zur Charakterisierung von Proben. Darüber hinaus hilft die umfassende Skalierbarkeit den Benutzern, die Welt der mikroskopischen Bildgebung zu erkunden.
VIDEO
Kataloge
Tungsten filament SEM microscope
24 Seiten
Field Emission SEM4000Pro
12 Seiten
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.