Rasterelektronenmikroskop SEM3200
Laboraufrechtplan

Rasterelektronenmikroskop - SEM3200 - CIQTEK Co., Ltd. - Labor / aufrecht / plan
Rasterelektronenmikroskop - SEM3200 - CIQTEK Co., Ltd. - Labor / aufrecht / plan
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Eigenschaften

Typ
Rasterelektronen
Anwendungsbereich
Labor
Ergonomie
aufrecht
Objektiv-Art
plan
Beobachtungstechnik
In-Situ
Konfigurierung
bodenstehend
Lichtquelle
koaxialer Beleuchtung
Elektronenquelle
Wolframwendel
Ionenquelle
Gallium
Linsendesign
mit Aberrationskorrektur
Detektortyp
EBSD
Optionen und Zubehör
computergestützt, USB
Weitere Eigenschaften
automatisch
Vergrößerung

300.000 unit

Räumliche Auflösung

3 nm, 4 nm, 7 nm

Gewicht

480 kg
(1.058,2 lb)

Länge

926 mm
(36,5 in)

Breite

836 mm
(32,9 in)

Höhe

1.700 mm
(66,9 in)

Beschreibung

CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Umgebung zur Charakterisierung von Proben. Darüber hinaus hilft die umfassende Skalierbarkeit den Benutzern, die Welt der mikroskopischen Bildgebung zu erkunden.

VIDEO

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.