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Rasterkraftmikroskop Diamond III/IVLabormedizinischfür Halbleiter
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Eigenschaften
- Typ
- Rasterkraft
- Anwendungsbereich
- Labor, medizinisch, für Halbleiter
- Ergonomie
- aufrecht
- Mikroskopkopf
- binokular
- Objektiv-Art
- Achromatisch, apochromatisch
- Beobachtungstechnik
- Hellfeld, Fluoreszenz, Konfokales Laser-Scanning, In-Situ
- Konfigurierung
- bodenstehend
- Lichtquelle
- LED-Beleuchtung, Laser
- Ionenquelle
- Gallium, Xenon
- Detektortyp
- in-lens SE
- Optionen und Zubehör
- computergestützt
- Weitere Eigenschaften
- Digitalkamera, hochauflösend, für Diamant, Hochpräzision
Beschreibung
CIQTEK QDAFM Diamond III/IV ist ein Raster-NV-Zentrumsmikroskop, das auf dem Diamant-Stickstoff-Leerstellen-Zentrum (NV-Zentrum) und der AFM-Raster-Magnetbildgebungstechnologie basiert. Die magnetischen Eigenschaften der Probe werden quantitativ und zerstörungsfrei durch Quantenkontrolle und Auslesen des Spinzustands in der Diamantsonde ermittelt.
Basierend auf der NV-Diamantmagnetometrie und der Quantenmechanik verfügt es über eine räumliche Auflösung im Nanomaßstab und eine extrem hohe Nachweisempfindlichkeit und kann zur Entwicklung und Untersuchung magnetischer Texturen, hochdichter magnetischer Speicherung und Spintronik verwendet werden.
Kataloge
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Weak Magnetic Measurement
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.