Modell-Nr.: SuperView W1-Lite
Produktname: Optische Nano-3D-Oberflächenprofilometer
Standard-Sichtfeld: (0,98*0,98)mm
Maximales Sichtfeld: (6x6)mm
Reflexionsvermögen des Testobjekts: 0,05 % ~100 %
Reproduzierbarkeit der Rauheit RMS: 0,01nm
Abtastbereich: ≤10mm
Auflösung: 0.1nm
Genauigkeit der Stufenmessung: 0.3 %
Reproduzierbarkeit der Tischmessung: 0.08% 1σ
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