Optisches Profilometer SuperView W1-Ultra

3Dfür IndustrieanwendungenLabor

Modell-Nr.: SuperView W1-Ultra Produktname: Optische Nano-3D-Oberflächenprofilometer Standard-Sichtfeld: (0,98*0,98)mm Maximales Sichtfeld: (6x6)mm Reflexionsvermögen des Testobjekts: 0,5 % ~100 % Reproduzierbarkeit der Rauheit RMS: 0,005nm Abtastbereich: ≤10mm Auflösung: 0.1nm Genauigkeit der Stufenmessung: 0.3 % Reproduzierbarkeit der Tischmessung: 0.08% 1σ Das optische 3D-Oberflächenprofilometer SuperView W1-Ultra ist ein ideales Instrument für die Sub-Nanometer-Messung verschiedener Präzisionsteile. Basierend auf dem Prinzip der Weißlicht-Interferenztechnologie, kombiniert mit einem Präzisions-Scanmodul in Z-Richtung und einem 3D-Modellierungsalgorithmus, scannt es berührungslos die Oberfläche des Objekts und erstellt dann ein 3D-Bild der Oberfläche. Eine Reihe von 2D- und 3D-Parametern, die die Oberflächenqualität des Objekts widerspiegeln, werden erhalten, nachdem die XtremeVision-Software das 3D-Bild verarbeitet und analysiert hat. Das SuperView W1 ist ein benutzerfreundliches optisches Präzisionsinstrument mit leistungsstarken Analysefunktionen für alle Arten von Oberflächenform- und Rauheitsparametern. Mit seiner einzigartigen Lichtquelle kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen.