Lichtsonde SuperView WX100
optisch

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Eigenschaften

Messgröße
Licht
Technologie
optisch

Beschreibung

SuperView WX100 Weißlicht-Interferometriesonde Funktionen Messfunktion: Sie kann eine hochpräzise Z-Abtastung der Probenoberfläche durchführen und ein 3D-Bild erhalten. Analyse-Funktion: Sie kann 2D- und 3D-Daten wie Oberflächenrauhigkeit, Konturgröße auf Mikro-Nano-Ebene, etc. ermitteln. Programmierfunktion: Unterstützt vorkonfigurierte Datenverarbeitungs- und Analysewerkzeugschritte, mit einem Klick kann der gesamte Prozess von der Messung bis zur Analyse abgeschlossen werden. Batch-Analyse: Datenverarbeitungs- und Analyseschablonen können entsprechend den Kundenanforderungen angepasst werden, und die Batch-Analyse kann mit einem Klick für dieselbe Art von Parameterdaten durchgeführt werden Halbleiter, polierte Silizium-Wafer, dünne Silizium-Wafer, Wafer-IC 3C-Elektronik, Saphirglas-Rauheit, Metallschalen-Formenfehler, Höhenunterschied der Glasscheibe

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VIDEO

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.