Oberflächenprofiler mit Stylus CP200

Der Stylus Nano Profiler CP200 ist ein hochpräzises Kontaktmessgerät für die Messung von Oberflächenrauheit und mikroskopischen Profilen, wie z. B. Mikro-Nano-Stufenhöhe und Schichtdicke. Der CP200 verwendet einen Wegsensor mit einer Auflösung im Sub-Angström-Bereich, eine Signalerfassung mit sehr geringem Rauschen, eine ultrafeine Bewegungssteuerung und Kalibrierungsalgorithmen mit hervorragender Leistung. Seine Kontaktkraft ist extrem gering, und es gibt keine besonderen Anforderungen für die Messung von Oberflächenreflexionseigenschaften, Materialtypen und Materialhärte. Daher wird es häufig für die Messung mikroskopischer Oberflächen in der Halbleiter- und Verbindungshalbleiterindustrie, bei hellen LEDs, in der Solarenergie, bei mikroelektromechanischen MEMS-Systemen, Touchscreens, in der Automobilindustrie und in der Medizintechnik eingesetzt.