Optische Nano-3D-Oberflächenprofilometer SuperView W1
Modell-Nr.: SuperView W1/W1-Pro
Produktname: Optische Nano-3D-Oberflächenprofilometer
Standard-Sichtfeld: (0,98*0,98)mm
Maximales Sichtfeld: (6x6)mm
Reflexionsvermögen des Testobjekts: 0,5 % ~100 %
Reproduzierbarkeit der Rauheit RMS: 0,005nm
Abtastbereich: ≤10mm
Auflösung: 0.1nm
Genauigkeit der Stufenmessung: 0.3 %
Reproduzierbarkeit der Tischmessung: 0.08% 1σ
Das optische 3D-Oberflächenprofilometer SuperView W1 ist ein ideales Instrument für die Sub-Nanometer-Messung verschiedener Präzisionsteile. Basierend auf dem Prinzip der Weißlicht-Interferenztechnologie, kombiniert mit einem Präzisions-Scanmodul in Z-Richtung und einem 3D-Modellierungsalgorithmus, scannt es berührungslos die Oberfläche des Objekts und erstellt dann ein 3D-Bild der Oberfläche. Eine Reihe von 2D- und 3D-Parametern, die die Oberflächenqualität des Objekts widerspiegeln, werden erhalten, nachdem die XtremeVision-Software das 3D-Bild verarbeitet und analysiert hat. Das SuperView W1 ist ein benutzerfreundliches optisches Präzisionsinstrument mit leistungsstarken Analysefunktionen für alle Arten von Oberflächenform- und Rauheitsparametern. Mit seiner einzigartigen Lichtquelle kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen.
---