- Metrologie - Labor
- Metrologie und Materialprüfung
- Schichtdickenmesssystem
- Chotest Technology Inc.
Schichtdickenmesssystem MX3200DistanzUmfangGeradlinigkeit
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Eigenschaften
- Physikalische Größe
- Schichtdicken, Distanz, Umfang, Geradlinigkeit, Verschleiß, Biege, für Tiefenanwendung
- Technologie
- optisch, Video, 2D
- Gemessenes Produkt
- für Kleinteile, PCB, für Wafer, für Folien, für Glas, für Halbleiter
- Anwendung
- für Industrieanwendungen, Labor, zur Kalibrierung, für Elektronik, für die Automobilindustrie
- Weitere Eigenschaften
- kontaktlos, Hochpräzision, Mikroskop
Beschreibung
Die mikroskopische Messmaschine MX3200 ermöglicht durch die Kombination von mikroskopischer Bildgebung und herkömmlicher Videomessung die Messung kleinster Merkmale in einem weiten Bereich. Ausgestattet mit einem motorisierten Revolverkopf, kann es verschiedene mikroskopische 2D-Größen durch Umschalten verschiedener Objektive messen, einschließlich Punkte, Linien, Kreise und geometrische Toleranzen usw.
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Kataloge
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.