3D-Profiler SuperView W1

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Das optische 3D-Oberflächenprofilometer SuperView W1 ist ein ideales Instrument für die Messung verschiedener Präzisionsteile im Sub-Nanometerbereich. Basierend auf dem Prinzip der Weißlicht-Interferenztechnologie, kombiniert mit einem Präzisions-Scanmodul in Z-Richtung und einem 3D-Modellierungsalgorithmus, scannt es berührungslos die Oberfläche des Objekts und erstellt dann ein 3D-Bild der Oberfläche. Eine Reihe von 2D- und 3D-Parametern, die die Oberflächenqualität des Objekts widerspiegeln, werden erhalten, nachdem die XtremeVision-Software das 3D-Bild verarbeitet und analysiert hat. Das SuperView W1 ist ein benutzerfreundliches optisches Präzisionsinstrument mit leistungsstarken Analysefunktionen für alle Arten von Oberflächenform- und Rauheitsparametern. Mit seiner einzigartigen Lichtquelle kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Anwendungen Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, Ultrapräzisionsbearbeitung, optische Bearbeitung, Mikro-Nanomaterialien und mikroelektromechanische Systeme verwendet. Messung und Analyse für verschiedene Produkte, Komponenten und Materialien `Oberflächenform und Profileigenschaften, wie Ebenheit, Rauheit, Welligkeit, Aussehen, Oberflächenfehler, Abrieb, Korrosion, Spalt, Loch, Stufe, Krümmung, Verformung, etc.