Bi-telezentrisches Mikroskop-Objektiv TC65 seriesfür industrielle Nutzungzur Detektion von Halbleiterschaltungenfür die Objektinspektion
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Eigenschaften
- Typ
- bi-telezentrisch
- Anwendungstechnik
- für industrielle Nutzung, zur Detektion von Halbleiterschaltungen, für die Objektinspektion
- Weitere Eigenschaften
- extrem geringe Verzerrung
Beschreibung
TELEZENTRISCHES OBJEKTIV MIT VARIABLER VERGRÖSSERUNG
Keine Änderung des Arbeitsabstandes erforderlich, die Vergrößerung kann stufenlos von 0,5x bis 2,0x eingestellt werden
Bi-telezentrisches optisches Design, Telezentrizität ist ≤0,05° im vollen Vergrößerungsbereich
Weit verbreitet in der Elektronik-, Halbleiter- und anderen Hochpräzisionsindustrien
ANWENDUNG
Flüssigkristall, Halbleiter, andere
Position/Wackeligkeit
Positionierung von Glasplatinen
Elektronische Geräte
Geometrische Messung
D-Cut-Gravur Drehwinkel der Linse
Elektronische Teile
Position/Wackeligkeit
Überprüfung des Drahtdefekts des Kondensators
Kraftfahrzeug
Defekt/Fleck
Prüfen Sie die Schneidhaftung des Kolbens
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Kataloge
Chiopt Company Introduction
31 Seiten
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.