Mikroskop-Objektiv / Flächenscan FA 15/16A Series

für Detektionzur Identifizierungzur Detektion von Halbleiterschaltungen

1.1 20MP Ultrahohe Bildqualität Unterstützt 20MP-Flächenkameras Hohe relative Beleuchtungsstärke, mit großer Blende Verzerrung <0,1% Fokusbereich von 0,1m bis unendlich Kompatibel mit 1 '' und 2 / 3 " Sensor ANWENDUNG Elektronische Teile Identifizierung der Existenz / Identifizierung der Klassifizierung Erkennen Sie die Anzahl der Mikrochips und markieren Sie Defekte Defekte/Flecken Kameradefekte erkennen Flüssigkristall, Halbleiter, andere Geometrische Messung Erkennt IC Lead Bending Elektronische Teile Steckverbinder Erkennung der Ebenheit von Steckerstiften