Rastersondenmikroskop EIKOS-UV™

für Forschungszwecke3D

Die Atomsonde für die routinemäßige, hochleistungsfähige 3D-Nanoanalyse in Forschung und Industrie Aufbauend auf 30 Jahren Erfolg im Bereich der Atomsonden-Tomographie-Instrumente und -Anwendungen hat CAMECA EIKOS-UV™ entwickelt, das Atomsonden-Mikroskop für die schnelle Legierungsentwicklung und die Materialforschung im Nanobereich. Das EIKOS Atom Probe bietet: Dreidimensionale Tomographie mit nanoskaliger Charakterisierung von Mikrostrukturen Einzelatomdetektion mit hoher räumlicher Auflösung und hoher Effizienz Gleiche Empfindlichkeit für alle Elemente und ihre Isotope Quantitative Messung der Zusammensetzung (sub-nm bis in den Mikrometerbereich) Verfügbar in Spannungs- oder Spannungs- und Laserkonfigurationen Standard-Probenvorbereitungsmethoden EIKOS ist in 2 Konfigurationen erhältlich: Das EIKOS-Basissystem verfügt über ein Reflektron-Design, das ein hervorragendes Massenauflösungsvermögen und ein ausgezeichnetes Signal-Rausch-Verhältnis bietet. Eine vorjustierte integrierte Gegenelektrode sorgt für einfache Bedienung und hohe Zuverlässigkeit. Das Spannungsimpulssystem bietet eine sehr hohe Datenqualität bei einer Vielzahl von metallurgischen Anwendungen. Das vollständig konfigurierte EIKOS-UV-System kombiniert alle herausragenden Eigenschaften des Basis-EIKOS (spannungsgepulst, reflektronbasierte Funktionalität, vorjustierte Gegenelektrode) und fügt ein vollständig integriertes 355-nm-Laserpulsmodul mit computergesteuertem Fokuspunktdesign hinzu, um einen größeren Anwendungsbereich zu erschließen. Das EIKOS-Basissystem ist vor Ort zum EIKOS-UV aufrüstbar.