Rastersondenmikroskop LEAP 5000 series

für Forschungszwecke3D

3D-Atomsondenmikroskop mit unübertroffener analytischer 3D-Subnanometerleistung Das LEAP 5000 ist CAMECAs modernstes Atomsondenmikroskop und bietet eine überragende Detektionseffizienz für eine Vielzahl von Metallen, Halbleitern und Isolatoren: mehr als 40 % mehr detektierte Atome pro analysiertem nm3. Das LEAP 5000 sammelt Informationen im Nanobereich aus einem mikroskaligen Datensatz in nur wenigen Stunden und bietet eine verbesserte Zusammensetzungsgenauigkeit, Präzision und Nachweisgrenzen, einen höheren Probendurchsatz sowie eine höhere Ausbeute und ultimative Reproduzierbarkeit. Optimierte Detektionseffizienz bietet unvergleichliche Empfindlichkeit Großes Sichtfeld und einheitliche Detektion - die ultimative räumliche 3D-Auflösung Hervorragende Multi-Hit-Detektionsfähigkeiten für genaueste Messungen der Zusammensetzung Schnelle und variable Wiederholrate für die Datenerfassung mit extrem hoher Geschwindigkeit Robuste und ergonomische Plattform für erhöhte Benutzerfreundlichkeit und kürzere Einarbeitungszeit Echtzeit-Überwachung zur Gewährleistung höchster Datenqualität bei jeder Messung Fortschrittliche Algorithmen zur Lasersteuerung sorgen für eine messbar verbesserte Probenausbeute Die LEAP 5000-Familie Der LEAP 5000 XS kombiniert eine neue Flugbahntechnologie mit einer verbesserten Detektorleistung, um ein verbessertes Sichtfeld zu bieten und gleichzeitig eine noch nie dagewesene Detektionseffizienz von 80 % zu erreichen - die höchste aller Analysetechniken dieser Art! Darüber hinaus bietet das LEAP 5000 XS dank des fortschrittlichen Laserpulsmoduls, das Wiederholraten von bis zu 2 MHz ermöglicht, ein Höchstmaß an Effizienz und Produktivität.