Optisches Profilometer ContourX-200
3Dmit WeißlichtinterferometrieKonfokal

Optisches Profilometer - ContourX-200 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / mit Weißlichtinterferometrie / Konfokal
Optisches Profilometer - ContourX-200 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / mit Weißlichtinterferometrie / Konfokal
Optisches Profilometer - ContourX-200 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / mit Weißlichtinterferometrie / Konfokal - Bild - 2
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Technologie
optisch, 3D, mit Weißlichtinterferometrie, Konfokal
Verwendung
zur Kontrolle
Konfigurierung
Tisch, kompakt
Weitere Eigenschaften
kontaktlos, Hochgeschwindigkeit

Beschreibung

Flexibler Tisch für die Messung von Oberflächentexturen ContourX-200 Das optische Profilometer ContourX-200 bietet die perfekte Mischung aus fortschrittlicher Charakterisierung, anpassbaren Optionen und Benutzerfreundlichkeit für eine schnelle, genaue und wiederholbare berührungslose 3D-Oberflächenmesstechnik der Spitzenklasse. Das lehrenfähige System mit geringem Platzbedarf bietet kompromisslose hochauflösende 2D/3D-Messfunktionen mit einer 5-MP-Digitalkamera mit größerem Sichtfeld und einem neuen motorisierten XY-Tisch. Mit seiner unübertroffenen Auflösung und Genauigkeit in der Z-Achse bietet das ContourX-200 alle branchenweit anerkannten Vorteile der firmeneigenen Weißlicht-Interferometrie (WLI) von Bruker, ohne die Einschränkungen herkömmlicher konfokaler Mikroskope und konkurrierender optischer Standard-Profiler. Automatisierung fähigkeiten Ermöglicht Routinen für schnellere Messungen und Analysen. Motorisierter XY-Tisch Geräuscharmer Hochgeschwindigkeitsbetrieb für die quantitative Messtechnik. Vibrationstolerant kompaktes Design Bietet Messstabilität und lehrenfähige Wiederholbarkeit. MERKMALE Kompromisslose, erstklassige Metrologie Das optische Profilometer ContourX-200 basiert auf mehr als vier Jahrzehnten firmeneigener WLI-Innovationen und bietet die für die quantitative Messtechnik erforderlichen rauscharmen, schnellen, genauen und präzisen Ergebnisse. Durch den Einsatz mehrerer Objektive und die integrierte Merkmalserkennung können Merkmale über eine Vielzahl von Sichtfeldern und mit einer vertikalen Auflösung im Sub-Nanometerbereich verfolgt werden, was maßstabsunabhängige Ergebnisse für Qualitätskontroll- und Prozessüberwachungsanwendungen in sehr unterschiedlichen Branchen liefert. ContourX-200 ist robust in allen Oberflächensituationen von 0,05% bis 100% Reflexionsgrad.

---

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von Bruker Handheld XRF Spectrometry anzeigen
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.