Röntgendiffraktometer D8 DISCOVER

XRDSAXSGISAS

Die vielseitigste und flexibelste XRD-Lösung, die perfekt auf die Anforderungen von Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle in Industrie und Wissenschaft abgestimmt ist. Röntgenquellen mit herausragender Brillanz, wie die IµS Mikrofokus-Röntgenquelle und die HB-TXS High-Brillliance Turbo X-ray Souce HB-TXS. Das D8 DISCOVER ist das Flaggschiff unter den Mehrzweck-Röntgendiffraktometern mit führenden Technologiekomponenten. Es wurde für die strukturelle Charakterisierung aller Materialien entwickelt, von Pulvern, amorphen und polykristallinen Materialien bis hin zu epitaktischen, mehrschichtigen Dünnschichten bei Umgebungs- und Nicht-Umgebungsbedingungen. Anwendungen: Phasenidentifizierung und -quantifizierung, Strukturbestimmung und -verfeinerung, Analyse von Mikrodehnung und Kristallitgröße, Röntgenreflektometrie, Streiflichtbeugung (GID), Beugung in der Ebene, hochauflösendes XRD, GISAXS, GI-Spannungsanalyse, Analyse der Kristallorientierung Eigenspannungsanalyse, Textur und Polfiguren, Mikro-Röntgenbeugung, Weitwinkel-Röntgenstreuung (WAXS), Gesamtstreuungsanalyse: Bragg-Beugung, Paarverteilungsfunktion (PDF), Kleinwinkel-Röntgenstreuung (SAXS)