AFM-Mikroskop Nexus AFM

für ForschungszweckeIndustrieNanoskop

Dimension Nexus™ bietet eine ideale Kombination aus Datenqualität, Experimentflexibilität und Benutzerfreundlichkeit in einem System mit geringem Platzbedarf. Es beinhaltet die bahnbrechenden Innovationen des Bruker NanoScope® 6 Controllers und der PeakForce Tapping® Technologie und bietet mehr Funktionalität als konkurrierende Systeme in seiner Klasse. Dimension Nexus eignet sich sowohl für Routine- als auch für benutzerdefinierte Experimente und lässt sich im Feld leicht aufrüsten. Es ist sowohl ein hervorragendes Einstiegssystem als auch eine perfekte Ergänzung für jedes florierende AFM-Labor. Klassenbester leistung Ermöglicht Bildgebung mit atomarer bis molekularer Auflösung. Ultimativ vielseitigkeit und Wert Bietet eine breite Palette von AFM-Modi. Programmierbar motorisierter Tisch Steigert die Produktivität für publikationsreife Ergebnisse. Merkmale Bietet Spitzenleistung und Mehrwert bei jedem Scan Nexus liefert durchgängig hochpräzise, wiederholbare und publikationsreife Ergebnisse für ein breites Spektrum von Probentypen in Forschung und Industrie. Garantiert hohe Leistung Entscheidend für die erstklassigen Fähigkeiten dieses Systems ist die einzigartige Kombination aus modernster Hardware, Software und Zubehör, darunter: Vollständige Palette von PeakForce Tapping-Modi für hochauflösende Bildgebung und quantitatives Mapping mechanischer, elektrischer und chemischer Eigenschaften an einer Vielzahl von Proben NanoScope 6 Controller der neuesten Generation mit geringstem Rauschen, höchsten Geschwindigkeiten und größtmöglicher Vielseitigkeit für unübertroffene Fähigkeiten und Benutzerfreundlichkeit XYZ-Scanner mit geschlossenem Regelkreis, driftkompensierte Brückenstruktur und integrierter Granitsockel für Leistung bei kleinen Proben auf einem offen zugänglichen AFM mit großen Proben Größte Auswahl an speziellen AFM-Sonden, die für bestimmte Modi und Proben optimiert sind