Das D8 ADVANCE Plus kombiniert maximale Flexibilität mit beispielloser Benutzerfreundlichkeit und erfüllt perfekt die analytischen Anforderungen von epitaktischen und polykristallinen Dünnschicht-, Bulk- und Pulverproben unter Umgebungs- und Nichtumgebungsbedingungen.
Dank der TRIO-Optik erfolgt der Wechsel zwischen verschiedenen Instrumentengeometrien per Knopfdruck und zuverlässig ohne Benutzereingriff.
Unübertroffene Pulverdiffraktometrie mit Bragg-Brentano-Geometrie
Hervorragende Auflösung bei hoher Intensität auf epitaktischen Proben
Optimale polykristalline Dünnfilm-Beugung bei streifendem Einfall
XRR zur Bestimmung der Schichtdicke von 0,1 nm bis zu 250 nm
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