GaN-FET
System Merkmal:
- GaN Test Kit basierend auf AccoTEST Standard Testplattform STS8200 oder STS8300
- Bis zu vier Teststellen mit einem Kit, und max. 2 Testkits mit 8 Teststellen parallel durch den Tester unterstützt
- Völlig potentialfreie VI-Quelle mit bis zu 1000V/10A DC, max.2000v/20A
- Niedriges Leckage-Testmodul enthalten, <1nA Leckage-Testfähigkeit
- Unterstützt menügesteuerte Programmierung
Option für dynamischen Ron-Test
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