Optisches Mikroskop CW2010-DIC

Messmit differentiellem Interferenzkontrast

Merkmal: 1.Converter：Five-hole,Each hole adjusting the focus and dispatch center.Eliminieren Sie Fehler, um die Genauigkeit zu gewährleisten.（Exclusive patent） patent） 2.Z-Achse verwenden das Split-Bild-Prinzip beobachtet measurement，To kombinieren Präzision Z-Achse Schiene kann es halten, kann effektiv garantieren die Genauigkeit der Messung. 3.DIC-Prisma kann sich horizontal bewegen und vertical， das Reliefbild, das durch das linear polarisierte Licht der beiden entsteht richtungen wird eine starke dreidimensional。This produzieren kann nicht in einem normalen optischen System erreicht werden. 4.Großer Arbeitsabstand 5.Die Lichtquelle kann zwischen LED- oder Faser-Kaltlichtquellen wählen 6.Alle Teile und die Montage des optischen Systems sind importierte Komponenten. Durch ausländische Techniker Gatekeeper, Inbetriebnahme und technisches Steuerungspaket des DIC-SystemsTechnische Parameter Anwendung: CW2010-DIC ist Infinity optical system，Suitable für die Qualitätsprüfung von Chipverpackungen, Beobachtung und Messung der winzigen Vorsprünge und kleine Kratzer. Weit verbreitet in der Elektronik, den Materialien, der Chemie und anderen Bereichen der Forschung und Prüfung. Ist das ideale Instrument für die Forschung und Lehre von Forschungseinrichtungen und Universitäten.