Laserbeugungs-Partikelmessgerät LS 13 320 XR

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Für große Verbesserungen, die Ihnen helfen, kleine Unterschiede zu erkennen. Das LS 13 320 XR bietet erstklassige Daten zur Partikelgrößenverteilung durch die fortschrittliche PIDS-Technologie*, die hochauflösende Messungen und einen erweiterten Dynamikbereich ermöglicht. Wie das LS 13 320 liefert auch das XR-Partikelgrößenmessgerät schnelle und genaue Ergebnisse und hilft Ihnen, Ihre Arbeitsabläufe zu optimieren und die Effizienz zu steigern. Einige wichtige Verbesserungen helfen Ihnen dabei, kleine Unterschiede, die große Auswirkungen auf Ihre Partikelanalysedaten haben können, zuverlässig zu erkennen. • Direkte Partikeldetektion von 10 nm - 3.500 µm • Automatische Hervorhebung von Gut/Schlecht-Ergebnissent für eine schnellere Qualitätskontrolle • Verbesserte Software, die die Methodenerstellung für standardisierte Messungen vereinfacht • Neue Kontrollstandards zur adäquaten Überprüfung der Geräte-/Modulleistung Geräteeigenschaften • Erweiterter Messbereich: 10 nm – 3.500 µm • Analyse von Suspensionen, Emulsionen und Pulvern • Laserbeugung und erweiterte PIDS Technology ermöglichen hochauflösende Messungen mit realer Partikeldedektion bis 10 nm • Größenklassen: 129 Messkanäle für eine sehr hohe Auflösung • Detektoren: 132 Elemente im Winkelbereich von 0 bis 135° • Lichtquelle:785nm Laserdiode für extreme Langlebigkeit • Akkurate und reproduzierbare Messung von verschiedenen Partikelgrößen in einer Probe Intuitive Software • Konfigurierten Methoden (SOPs) ermöglichen Messergebnis mit nur 2 Klicks • Einfache Bedienung für erfahrene und unerfahrene Nutzer • Überlagerung von historischen Daten mit nur einem Klick • Automatisch visualisierte Spezifikationskontrolle