Inspektions-Kartographiesystem E142

für Wafer

Ein Schlüssel zur Rückverfolgbarkeit einzelner Bauelemente - Machen Sie sich bereit für die nächste Stufe der netzunabhängigen Produktion. ICs werden immer komplexer, dichter, kleiner und qualitätskritischer - mit einem kleinen Mangel. Wenn man sie nur ansieht, kann man nicht erkennen, ob sie brauchbar sind oder nicht. An dieser Stelle kommt Substrate Mapping E142 ins Spiel. E142 wendet eine virtuelle Karte wie eine Repräsentation der physischen Welt auf viele gängige Substrate wie z.B. Wafer, Streifen und Trays an. Besi Switzerland hat Strip Mapping basierend auf E142 auf dem Esec Die Bonder 2100 implementiert. Streifen-Identifikation -Lesen von 2D DataMatrix bis zu 100 µm Punkten -Lesen von CODE39 Barcode bis zu 200 µm Strichen bevorzugte StripID-Position: In der Nähe der vorderen oder hinteren Kante -EMI E142-konforme Streifenabbildungsstruktur -E142.2 SECS II konforme Kommunikation -Konfigurierbarer Download und Upload von Streifenkarten -BinCodeMap-Erzeugung konfigurierbar -TransferMap-Erzeugung konfigurierbar Wafer Mapping über Stream12 weiterhin verfügbar