Rastersondenmikroskop OS-AA
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Rastersondenmikroskop - OS-AA - Angstrom Advanced - AFM / RTM / digital
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Eigenschaften

Typ
AFM, Rastersonden, RTM, digital
Anwendungsbereich
für Forschungszwecke, Mehrzweck
Konfigurierung
Tisch
Räumliche Auflösung

0,1 nm, 0,13 nm, 0,26 nm

Beschreibung

Das OS-AA SPM-System ist bekannt für seine Multifunktionalität und Offenheit. Es ist eine Plattform für Experimente, die unkonventionell sind und sich weiterentwickeln als eine reine Detektionsanlage. Es ist nicht nur eine Detektionsanlage. Es beinhaltet auch Funktionen wie STM, AFM, LFM, MFM, EFM und Techniken wie Kontaktmodus, Gewindebohren und Phasenabbildung. Das SPM-System verfügt über die Bildgebungsfunktion mit volldigitaler Steuerung 16bit ADC/DAC. Das SPM-System verfügt über eine Hochgeschwindigkeitskommunikation, die auf dem TCP/IP-Protokoll für Doppel-CPU-Doppel-OS und großen Datenaustausch basiert. Es ist möglich, den Ein-/Ausgangssignal-Kanal weiter zu erweitern. Es verfügt über eine standardisierte externe offene Schnittstelle für Weiterentwicklungen. Seine Multimedia-Technologie ist in der Lage, Nanomanipulationen durchzuführen. Das System ist für Windows Vista/XP/NT/2000/9X ausgelegt

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.