Industriekamera PV

digitalFunkenemissionInspektion

Andors PV Inspector NIR-Kamera wurde entwickelt, um ultimative Geschwindigkeit und Empfindlichkeitsleistung für die Inline-Elektro- und Photolumineszenzprüfung zu bieten. Sie liefert > 90 % QE jenseits von 800 nm und verfügt über die Fringe Suppression Technology™ zur Minimierung von Streifeneffekten im NIR - QE > 90 % jenseits von 800 nm - 5 MHz und 3 MHz Auslesegeschwindigkeit - Dual Exposure Ring Mode - Fringe Suppression Technology ™ (Technologie zur Unterdrückung von Streifen) - UltraVac™ Die PV Inspector NIR-Kamera von Andor wurde entwickelt, um ultimative Geschwindigkeit und Empfindlichkeitsleistung für die Inline-Elektro- und Photolumineszenzinspektion zu bieten. Sie liefert > 90 % QE jenseits von 800 nm und verfügt über die Fringe Suppression Technology™ zur Minimierung von Streifeneffekten im NIR-Bereich. Das 1024 x 1024 Array verfügt über hochauflösende 13 μm Pixel und profitiert von vernachlässigbarem Dunkelstrom mit thermoelektrischer Kühlung bis zu -70°C. PV Inspector bietet den branchenweit höchsten Durchsatz durch schnelle Auslesegeschwindigkeiten von bis zu 5 MHz, kombiniert mit einem einzigartigen "Dual Exposure Ring Mode", der einen schnellen Wechsel der Belichtung ermöglicht. Ein abschließbarer USB 2.0-Anschluss gewährleistet eine sichere, vibrationsfeste Verbindung. Die verbesserte NIR-Empfindlichkeit und die einzigartigen Hochgeschwindigkeitsmodi des PV Inspector ermöglichen eine EL-Doppelbelichtungsinspektion mit Raten von mehr als einer Zelle pro Sekunde, was ideal für PV-Inspektionssysteme mit sehr hohem Durchsatz ist, wie sie in Stringern und Zellsortierern eingesetzt werden. Die schnelle Doppelbelichtung ermöglicht die quantitative Messung von Zellen unter verschiedenen Bias-Stufen.