Die Software besteht aus einem Hauptprogramm, das die Benutzerschnittstelle liefert, und verschiedenes Maschine Input/Output arbeitet, zusammen mit mindestens zwei Bibliotheken (DLL) die die Spektrumverarbeitung und DIE ZAF Berechnungen für die Spektren zur Verfügung stellen, die auf einem SEM genommen werden, das mit einem EDS Detektor gepaßt wird.
Die Software läuft auf Standard-PC und Betriebssysteme (Windows XP, 7, etc.). Komplette ZAF Analyse ist möglich, mit oder ohne Standards mit einer internen Datenbank der grundlegenden Parameter (FP) wie Absorption Koeffizienten, Fluoreszenzergebnissen, übergang Wahrscheinlichkeiten, etc. Es gibt auch eine eingeschlossene SpektrumAnzeigebaugruppe.
Die Software schließt auch den Erwerb von Spektren mit Amptek DPP Kleinteilen ein. Die zugrundeliegenden Methoden und die Resultate, die Akte (eine sogenannte EDX Akte) für Routineanalyse oder Elemente gegründet werden und wiederverwendet werden kann, können für jede neue Spektrumanalyse vorgewählt werden.
Die Software kann entweder Hauptteilmaterialien oder ein einlagiges Dünnfilmmaterial analysieren. Analyse kann ohne Standards erfolgt werden, wenn die Resultate bis 100% normalisiert werden können. Wenn man Standards verwendet, kann Stärke auch festgestellt werden, oder die Resultate müssen nicht normalisiert werden.
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