Sekundärelektronenmikroskope

Vergrößerung: 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 2, 10, 3 nm

... Tisch-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone für hochwertige Aufnahmen in verschiedenen Disziplinen. Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM bringt das Feldemissions-SEM ...

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 µm - 10 µm

... Phenom XL G2 Desktop SEM Anwendungen Das Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) der nächsten Generation automatisiert Ihren Qualitätskontrollprozess und liefert genaue, reproduzierbare Ergebnisse, während ...

Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm

... Desktop SEM für robuste und mühelose SEM-Analysen, die Ihre Forschungsmöglichkeiten erweitern. Phenom Pro Desktop SEM Die sechste Generation des Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop SEM schließt die Lücke zwischen der Lichtmikroskopie ...

Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm

... Desktop-SEM mit EDS-Funktion für robuste, mühelose und vielseitige Elementar- und SEM-Analysen. Phenom Desktop SEM mit energiedispersiver Röntgendiffraktometrie Die sechste Generation des Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM ...

Vergrößerung: 160 unit - 175.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 15 nm

... Desktop SEM ist wirtschaftlich und einfach zu bedienen und verfügt über zuverlässige Automatisierungsfunktionen. Das Thermo Scientific Phenom Pure Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein ideales Werkzeug für den Übergang von ...

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm

... Desktop-Rasterelektronenmikroskop für die Batterieproduktion und -forschung. Analyse fortschrittlicher Batteriematerialien Phenom Desktop SEM für die Analyse von Batteriematerialien In der Batterieproduktion und -forschung wird die ...

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm

... Analyse der Bauteilsauberkeit mit einem Mehrzweck-Desktop-SEM. Desktop-SEM für die Analyse der Bauteilsauberkeit Das Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM ist ein vielseitig einsetzbares Desktop-SEM, das technische Sauberkeit ...

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 10 nm

... Desktop-SEM für die Analyse der additiven Fertigung, das große Proben von bis zu 100 mm x 100 mm untersuchen kann. Analyse der additiven Fertigung Das Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein ...

Räumliche Auflösung: 7, 3 nm
Gewicht: 5 kg

... Rasterelektronenmikroskop für die industrielle Forschung und Entwicklung mit der Möglichkeit, Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie zu betreiben. Umwelt-Rasterelektronenmikroskop Das Thermo Scientific Prisma E Rasterelektronenmikroskop ...

Räumliche Auflösung: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Gewicht: 5 kg

... Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl für ultrahochauflösende, hochwertige Probenpräparation und 3D-Charakterisierung. Das Thermo Scientific Scios 2 DualBeam ist ein ultrahochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop ...

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...

Räumliche Auflösung: 1,2 nm

... Das innovative analytische FE-SEM ermöglicht einen einfachen Wechsel zwischen Hochvakuum- und variablem Druckmodus. EM Wizard ist ein wissensbasiertes System für die REM-Bildgebung, das über grundlegende voreingestellte Bedingungen und ...

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...

Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5, 15 nm

... Das FlexSEM 1000 II VP-SEM kombiniert innovative technologische Funktionen mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, um Anpassungsfähigkeit und Flexibilität in einem leistungsstarken, automatisierten und laborfreundlichen Paket zu bieten. ...

Vergrößerung: 10 unit - 25.000.054 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 614, 617 mm

... Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, ...

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8 nm - 1.200 nm
Gewicht: 950 kg

... CIQTEK SEM5000Pro ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische ...

Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign ...

Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4,5, 3,9 nm

... Das SEM2100 ist ein benutzerfreundliches und leicht zugängliches Wolfram-Filament-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das auch für Einsteiger geeignet ist. Es zeichnet sich durch einen vereinfachten Bedienprozess aus und hält sich bei der ...

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6 nm - 1 nm
Gewicht: 400 kg

CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der „SuperTunnel“-Technologie ...

Räumliche Auflösung: 3, 0,9, 1,6 nm

CIQTEK DB500 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung, das mit „SuperTunnel“-Technologie, geringer Aberration und magnetfreiem Objektivdesign, niedriger ...

Vergrößerung: 1 unit - 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 2,5 nm - 5 nm
Länge: 926 mm

... Das SEM3300 ist ein Rasterelektronenmikroskop der neuen Generation mit einer Auflösung von mehr als 2,5 nm bei 20 kV. Die spezielle Elektronenoptik durchbricht die Auflösungsgrenze des Wolframfilaments und erreicht eine Auflösung von ...

Vergrößerung: 66 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,3 nm
Länge: 1.716 mm

... Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop für die maßstabsübergreifende Abbildung großvolumiger Proben Das CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die lichtstarke Großstrahl-Elektronenkanone, das Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, ...

Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... Das SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM). Es erreicht eine Auflösung von 1.9nm@1.0kV und meistert mühelos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedene ...

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV ist ein Raster-NV-Zentrumsmikroskop, das auf dem Diamant-Stickstoff-Leerstellen-Zentrum (NV-Zentrum) und der AFM-Raster-Magnetbildgebungstechnologie basiert. Die magnetischen Eigenschaften der Probe werden ...