Sekundärelektronenmikroskope

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Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
SU9000 II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
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SU8700

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,6 nm

... Das SU8700 ist standardmäßig mit einer 150-mm-Probenschleuse ausgestattet und bietet einen hohen Probendurchsatz auch für größere Proben und eine konstant saubere Probenkammerumgebung für kontaminationsarme, hochauflösende Bildgebung. ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
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SU7000

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Das SU7000 ist ideal für große oder schwere Proben und für die Integration einer breiten Palette von Zubehör. Zu diesem Zubehör gehören analytische Detektoren oder Tischaufsätze für die In-situ-Probenmanipulation (Dehnung [Zug] / Kompression, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
SEM-Mikroskop
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Phenom XL G2

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 µm - 10 µm

... Phenom XL G2 Desktop SEM Anwendungen Das Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) der nächsten Generation automatisiert Ihren Qualitätskontrollprozess und liefert genaue, reproduzierbare Ergebnisse, während ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
SEM-Mikroskop
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Phenom Pro G6

Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm

... Desktop SEM für robuste und mühelose SEM-Analysen, die Ihre Forschungsmöglichkeiten erweitern. Phenom Pro Desktop SEM Die sechste Generation des Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop SEM schließt die Lücke zwischen der Lichtmikroskopie ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
SEM-Mikroskop
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Phenom ProX G6

Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm

... Desktop-SEM mit EDS-Funktion für robuste, mühelose und vielseitige Elementar- und SEM-Analysen. Phenom Desktop SEM mit energiedispersiver Röntgendiffraktometrie Die sechste Generation des Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM ...

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Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
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SEM5000Pro

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8 nm - 1,3 nm
Gewicht: 950 kg

... CIQTEK FESEM-Mikroskop SEM5000Pro Spezifikationen -Elektronenoptik Auflösung:0,8 nm bei 15 kV, SE/1,2 nm bei 1,0 kV, SE Beschleunigungsspannung:0,02 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid):1 ~ 2.500.000 x Elektronenkanonen-Typ:Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone -Probenkammer Kamera:Doppelkameras ...

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CIQTEK Co., Ltd.
Rastersondenmikroskop
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Scanning NV Microscope (SNVM)

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV ist ein Raster-NV-Zentrumsmikroskop, das auf dem Diamant-Stickstoff-Leerstellen-Zentrum (NV-Zentrum) und der AFM-Raster-Magnetbildgebungstechnologie basiert. Die magnetischen Eigenschaften der Probe werden ...

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Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
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SEM4000Pro

Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign ...

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Rasterelektronenmikroskop
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JSM-IT710HR

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...

FIB/SEM-Mikroskop
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AMBER X

... Eine einzigartige Kombination von Plasma-FIB und feldfreiem UHR FE-SEM für die Multiskalen-Materialcharakterisierung - Hoher Durchsatz, großflächige FIB-Verarbeitung bis zu 1 mm - Ga-freie Mikroprobenpräparation - Ultrahochauflösende, ...

AFM-SEM-Mikroskop
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FusionScope®

Vergrößerung: 25 unit - 200.000 unit
Gewicht: 330 kg
Länge: 835 mm

... Das FusionScope ist ein korrelatives AFM/SEM-Mikroskop, das von Grund auf so konzipiert wurde, dass Sie die Vorteile der Kombination dieser beiden Analysemethoden nahtlos nutzen können. Für die meisten Analysen ist es oft wünschenswert, ...

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